Veřejná zakázka
Analytické optické zařízení pro charakterizaci tenkých vrstev
Předmět plnění:
- dodávka 1 kusu analytického optického zařízení pro měření tenkých vrstev, pro monitorování tloušťek tenkých vrstev, jejich optických parametrů a povrchové drsnosti na principu spektroskopické elipsometrie
Hodnoticí kritéria:
- nejnižší nabídková cena
Lokalita:
- okres Praha-východ
Termín:
- do 31. 11. 2017
