Elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM)

Předmět plnění:
- dodávka elektronového mikroskopu s fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM) vč. příslušenství a software
- mikroskop je vybavený technologií, která umožňuje automatickou přípravu tenkých lamel, jejich in-situ analýzu pomocí segmentovaného detektoru STEM v adaptivních režimech světlého pole, temného pole a v režimu temného pole pod vysokým úhlem (BF, DF, HAADF), jakož i následnou ex situ analýzu pomocí transmisního elektronového mikroskopu (TEM)
- systém dále umožňuje chemickou a krystalografickou charakterizaci metodou EDS resp. EDX (energy dispersive X-spectroscopy) a EBSD (Electron backscatter diffraction)
- díky součinnosti iontového obrábění vzorku a analýzy materiálu pomocí detektorů EDS a EBSD umožňuje FIB-SEM prostorovou (3D) analýzu vzorků
- zadavatel požaduje vysoké rozlišení elektronové optiky, vysoké rozlišení iontové optiky v bodě koincidence, spolehlivou softwarově automatizovanou preparaci vysoce tenkých lamel a možnost jejich analýzy pomocí detektoru STEM bez porušení vakua s maximálními časovými úsporami přístrojového času, jakož i rychlou a citlivou analýzu detektory EDS a EBSD

Hodnoticí kritéria:
- technická úroveň nabízeného přístroje - váha 60 %
- nabídková cena - váha 40 %

Lokalita:
- okres Ostrava-město

Termín:
- max. 270 kalendářních dnů od nabytí účinnosti smlouvy

Přílohy: